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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESD5V0L2UU; PESD6V0L2UU
Low capacitance unidirectional ESD protection diodes
4 GHz DIGITAL
RZ
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
GND
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
GND
GND
vertical scale = 20 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 20 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
(IEC 61000-4-2 network)
006aab437
Fig 7.
PESD5V0L2UU: ESD clamping test setup and waveforms
PESD5V0L2UU_PESD6V0L2UU_1
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 11 March 2009
7 of 13
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